Описание GNR Explorer
Рентгеновский порошковый дифрактометр GNR Explorer
Модульная платформа для XRD, XRR, GIXRD и HRXRD исследований
Explorer — новейший рентгеновский порошковый θ/θ (тета-тета) дифрактометр, разработанный компанией
GNR Analytical Instruments для решения широкого спектра аналитических задач — от рутинного фазового анализа до высокоразрешающих исследований тонких плёнок и остаточных напряжений.
Универсальность и модульность без ограничений
Благодаря модульной конструкции и широкому набору аксессуаров Explorer позволяет выполнять измерения в различных конфигурациях:
- X-Ray Powder Diffraction (XPD) — порошковая дифракция;
- Reflectometry (XRR) — рентгеновская рефлектометрия;
- Grazing Incidence XRD (GIXRD / GID) — скользящий пучок для тонких плёнок;
- High Resolution XRD (HRXRD) — высокоразрешающая дифракция;
- Total X-Ray Fluorescence (TXRF) — полный внешний отражательный XRF-анализ;
- анализ остаточных напряжений и текстуры.
Explorer можно начать с базовой конфигурации и в дальнейшем модернизировать под новые задачи лаборатории — от фазовой идентификации до микро- и наноструктурного анализа.
Области применения
- количественный и качественный фазовый анализ смесей;
- расчет степени кристалличности;
- анализ полиморфизма и структуры кристаллов;
- определение остаточного аустенита;
- анализ остаточных напряжений и текстуры;
- исследование тонких плёнок и мультислойных структур;
- профилирование по глубине;
- мониторинг фазовых превращений;
- исследования в температурных и климатических камерах;
- изучение наночастиц и тонкоплёночных материалов.
Torque-гониометр нового поколения
Explorer оснащён высокоточным Torque-гониометром:
- высокомоментный бесщёточный torque-двигатель постоянного тока;
- оптические энкодеры положения;
- точность позиционирования — 0,0001°;
- прямой беззубчатый привод — отсутствие люфтов и гистерезиса;
- минимальное количество движущихся частей и высокая надёжность.
Такое решение обеспечивает максимальную скорость, точность и стабильность позиционирования даже при больших нагрузках.
Гибкость оптики и конфигураций
Оптическая схема Explorer позволяет переключаться между:
- геометрией Брегга-Брентано;
- фокусирующей геометрией;
- геометрией параллельного пучка.
Высокая скорость и автоматизация
- быстродействующий полупроводниковый позиционно-чувствительный детектор — анализ за 1 минуту;
- автоматизированный пробоподатчик для полной автоматизации процесса;
- возможность оснащения XRF-спектрометром высокого разрешения для одновременного элементного и фазового анализа.
Высокоразрешающая рефлектометрия (XRR)
Explorer позволяет проводить XRR-исследования с характеристиками:
- толщина плёнок: 1−500 нм (точность лучше ±1%);
- плотность: точность лучше ±0,03 г/см³;
- шероховатость поверхности и границ раздела: 0−5 нм (точность лучше ±0,1 нм).
Для тонких плёнок и мультислойных структур используется приставка скользящего пучка (GIXRD).
Работа в нестационарных условиях
Explorer поддерживает:
- температурные камеры;
- климатические камеры;
- нестационарные измерения;
- мониторинг фазовых переходов в реальном времени.
Программное обеспечение
Современное, мощное и удобное ПО:
- упрощает настройку эксперимента;
- включает специализированные модули для фазового анализа и структурной интерпретации;
- подходит как для рутинных лабораторных задач, так и для исследовательских проектов.
